Nachhaltigkeit und Digitalisierung: Was steht am internationalen Metrologiekongress 2025 an?
Der Internationale Metrologiekongress (CIM) findet vom 11. bis 14. März 2025 zum 22. Mal auf der Eurexpo Lyon (Frankreich) statt. Dieser Pflichttermin im Bereich Messwesen und Metrologie stellt die besten Industriepraktiken sowie die angewandte Forschung zur Zuverlässigkeit von Messdaten in den Mittelpunkt.
Der CIM wird vom CFM (Collège Français de Métrologie) organisiert und zieht jedes Jahr fast 650 Teilnehmer aus 45 Ländern an. Der Kongress erneuert seine Partnerschaft mit Global Industrie, der grössten Industriemesse Frankreichs, und festigt damit seine Position als Schlüsselveranstaltung für den Sektor.
Übergang als Kern jeder Herausforderung
Die Metrologie spielt eine entscheidende Rolle bei der Bewältigung der heutigen ökologischen und digitalen Herausforderungen. In diesem Jahr liegt der Schwerpunkt auf der Frage, wie die Metrologie die Nachhaltigkeit unterstützen kann, und zwar in zahlreichen Vorträgen und Posterpräsentationen sowie in der wichtigsten Plenarsitzung des Kongresses. Ferner wird die Digitalisierung der Metrologie, eine der grössten Herausforderungen für das nächste Jahrzehnt, in drei Konferenzsitzungen und drei Rundtischgesprächen behandelt.
«In diesem Jahr haben wir den Titel ‚Eine neue Metrologie für eine nachhaltige Industrie und Gesellschaft‘ gewählt, weil das Programm deutlich macht, wie sich die Metrologie verändert und wie unsere Gemeinschaft neue Wege sucht, um einen Beitrag zur Herausforderung der Nachhaltigkeit zu leisten», sagt Martin Milton, BIPM-Direktor & CIM2025-Präsident
Vier Tage zum Durchstarten
Vier Tage lang haben die Teilnehmer die Möglichkeit, alle wichtigen Themen im Zusammenhang mit der internationalen Metrologie zu erkunden.
Das Ziel? Jedem Teilnehmer die Möglichkeit zu geben, das Beste aus der Veranstaltung herauszuholen, sei es, um sein Wissen zu erweitern, sein Netzwerk auszubauen oder um die neuesten technologischen Fortschritte zu entdecken. Von den neuesten Innovationen in verschiedenen technischen Bereichen bis hin zur Optimierung von Mess- und Qualitätsprozessen wird auf der CIM nichts übersehen.
In dieser Ausgabe wird auch der 150. Jahrestag der Meterkonvention gefeiert, ein historischer Meilenstein, den man nicht verpassen sollte.
Was steht auf dem Programm?
200 Konferenzen, aufgeteilt in mündliche und Posterpräsentationen
5 Runde Tische:
- IoT und Metrologie: Auf dem Weg zu einem Internet der Metrologie?
- Qualitätsinfrastruktur in einer digitalen Welt
- Bekämpfung von Schadstoffen, die Anlass zu Besorgnis geben, für eine gesündere Zukunft
- Quantensensorik: die nächste industrielle Revolution
- Metrologe: eine gefährdete Spezies?
Plenarsitzung: «Eine neue Metrologie für eine nachhaltige Industrie und Gesellschaft»
Workshop QI-DIGITAL: Metrologie in der digitalen Transformation der internationalen Qualitätsinfrastruktur
Kurzer Kurs: Sicherstellung der Rückverfolgbarkeit von Messungen in ISO/IEC 17 025-Laboratorien – Neu in 2025
Zahlreiche Networking-Aktivitäten (Kaffeepausen, Catering-Service, Gala-Abend, MyGI usw.)
Alle Präsentationen vor Ort werden in englischer Sprache gehalten.
Das Publikum setzt sich aus 650 Teilnehmern aus 45 Ländern zusammen:
- 65 % vertreten Endnutzer aus verschiedenen Branchen,
- 35 % aus offiziellen Stellen und Forschungslabors
Ausstellungsbereich für Akteure aus Industrie und Forschung
Das Metrology Village im Zentrum des Bereichs Measurement, Control, Vision und Instrumentation ist der zentrale Treffpunkt für Aussteller, Kongressteilnehmer und Besucher der Global Industrie Trade Show. Hier präsentieren sich Hersteller von Messgeräten, Dienstleister, führende Institute usw. und bieten mit ihren Ständen und Stellflächen ein umfassendes Erlebnis der neuesten Innovationen und Dienstleistungen.
Der Metrology Village Square wird das Herzstück für Networking und Zusammenarbeit sein und ist somit ein perfekter Ort, um strategische Verbindungen zu knüpfen und zukünftige Partnerschaften zu erkunden.
Quelle und weitere Informationen: www.cim-metrology.org